贺州西门子电缆6XV1840-2AH10

　 此FAQ描述如何在TIA门户中调试TIA 插件。

下面介绍在Microsoft Visual Studio中调试TIA 插件。

附加到TIA插件进程

每次要调试TIA插件时，请重复以下步骤：

准备

• 创建 TIA 插件 (*.addin)。

• 将TIA插件复制到TIA门户安装的“Addins”文件夹中(例如： C:\ProgramFiles\Siemens\Automation\Portal V16\AddIns)。

• 在“加载项”任务卡中启用TIA插件。

启动TIA插件

在TIA Portal中：

• 打开用于创建的TIA 插件的元素的属性菜单（1）。

• 将鼠标移到创建的菜单项上（2）。在这种方式下TIA 插件被加载到一个单独的进程中。

图. 1: 加载TIA 插件

连接到TIA插件进程

在Microsoft Visual Studio中：

• 在TIA插件（1）的代码中设置断点。

• 在菜单选择 "Debug" → "Attach to Process" (2)。

• 找到 "Siemens.Engineering.AddIn.Loader.x64.exe" 进程 (3)并点击"Attach" (4)。

  在TIA Portal中：

  • 运行要测试的关联内容菜单项。

  • 程序序列将在Microsoft Visual Studio中定义的断点处暂停。

    注意
    多个TIA加载项进程可能处于活动状态。禁用所有其他TIA加载项，因为无法确定哪个进程属于您的TIA加载项。

    
    图. 2: Start debugging

    
    图. 3: 附加到进程

    自动连接

    使用"Debugger.Launch()”方法可以自动附加调试器。对于此方法，TIA插件需要安全权限"System.Security.Permissions.UIPermission" 。必须在发布TIA插件之前删除此方法和权限，否则每次执行时调试器都将附加到VisualStudio。例如，在发布版本中，可以使用编译器语句"#define DEBUG"删除launch方法。

    按以下步骤进行调试：

    • 在要调试调试器的位置插入行"Debugger.Launch()" 。

    • 在 TIA 插件的配置文件中插入如下权限:

    • System.Security.Permissions.UIPermission

    • System.Security.Permissions.SecurityPermission.UnmanagedCode

    • 创建TIA插件并在TIA Portal中启用。

    • 执行要测试的TIA插件。

    • 在执行TIA插件的过程中，launch方法打开一个窗口来选择项目。

    • 选择TIA插件项目。

    • 继续在项目中调试。

      
      图 4: 示例

      TIA 插件测试器

      由于以上述方式调试TIA插件项非常耗时，建议使用 TIA Add-InTester。TIA插件测试器可以在开发过程中测试TIA插件，而无需在TIAPortal中安装和激活它。要测试的TIA插件作为开放性应用程序加载到TIA插件测试器中，连接到TIA门户并执行。 可以直接在外接程序项目中启动调试。

      目前手机普遍采用白光LED作为显示屏幕的背光元件，相应的白光LED驱动器成为一颗在手机设计中不可或缺的IC。白光LED驱动器采用开关电源拓扑结构，如电感式升压转换器。转换器在高速开关的由于使用电感产生EMI干扰，会给手机其他功能模块的设计带来困难。随着LCD屏幕的增大，驱动器所需的输出能力也相应增加，EMI干扰也会变得严重。设计白光LED驱动器时对EMI的考虑必需认真对待。
      

      

      
      　　德州仪器推出的TPS61161升压转换器除了提供10颗LED的驱动能力外，在EMI问题上也有相应的设计考虑，其典型应用如图1所示。在TPS61161开关设计上采取两次开关过程，有效降低了EMI的辐射强度，从而避免驱动器对手机其他模块的影响。如图2黑色曲线所示，当TPS61161打开内部MOSFET开关管时，MOSFET的漏源电压Vds在很短的时间内从高压变成接近于零的低压，即很大的电压变化率dv/dt；并且在开关开启的初期，由于MOSFET的特性，流过MOSFET开关管的电流变化率也很大，即di/dt。考虑到dv/dt和di/dt对于EMI产生的作用，在MOSFET开启初期，采用减慢开关电压变化率dv/dt来减少EMI强度，如图2红色曲线所示。
      

      

      
      　　传统的开关技术和二次开关技术在实际EMI测试结果证明，TPS61161的二次开关技术减低了EMI辐射能量。在EMI测试试验中，TPS61161通过电池电压3.7V驱动10颗串联LED。图3a表示了EMI测试环境空间的白噪声，图3b表示了TPS61161采用传统开关的EMI测试结果，图3c表示了TPS61161采用现有二次开关技术的EMI测试结果。试验结果表明，二次开关使得EMI辐射强度减少了10db。
      

      

      
      　　TPS61161支持线性调光技术——通过调节LED的导通电流，改变LED的发光强度。这种调光方法有效地避免了由于LED调光所引起的EMI干扰。此类干扰经常发生在PWM调光方式。
      
      　　当然，在具体应用TPS61161设计时好的PCB布局布线也有助于更好的降低EMI对手机系统的干扰。除了TPS61161，德州仪器的TPS61160白光LED驱动器，TPS61165高亮度LED驱动器都采用了二次开关技术。具体可以参考德州仪器的产品目录。